XF-MT1X65D
23/03/21 09:10:03
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采用物方远心设计，保证测量精准性；
利用高倍率以及大光圈带来高分辨率，可高达210lp/mm；
全系列工作距离65mm；
可兼容2/3英寸百万像素以上C接口烟台致瑞图像技术有限公司；
可应用于高精度工件瑕疵检测；
| 芯片类型 | 2/3 |
| 芯片长 | 8.45 |
| 芯片宽 | 7.07 |
| 对角线 | 11 |
| 物方视野长 | 8.5 |
| 物方视野宽 | 7.1 |
| 镜头总长（mm） | 110.6 |
| 最大口径（mm） | 30 |
| O/I（mm） | 193.1 |
| 镜头接口 | C接口 |
| 光学畸变设计值（%） | 0.039 |
| 分辨力（μm） | 7.3 |
| 光圈 | F11.1 |
| 景深（mm） | 1.2 |
| 像方视野 (mm) | 11 |
| 远心设计值 (°) | 0.06 |
| 物方视野φ (mm) | 11 |
| 工作距离 (mm) | 65 |
| 光学结构 | 物方远心 |
| 倍率 （X） | 1 |
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